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経歴（Biography）

吉川 正信 博士（工学）

 

世界最先端の半導体・材料分析技術の研究開発・実用化を40年以上にわたり推進

40年以上にわたり、世界最先端の半導体・材料分析技術の研究開発から実用化、さらに技術マネジメントまで一貫して携わり、産業界および学術界の研究開発を支えてきました。

Raman分光、Photoluminescence（PL）、Cathodoluminescence（CL）、FT-IR、SNOM/TERS、電子顕微鏡解析を用いた先端半導体材料・デバイス評価を専門とし、Si、SiC、GaN、Diamond、Ga₂O₃をはじめとする先端半導体材料の評価技術開発に従事してきました。

また、新規分析技術の研究開発だけでなく、その実用化、技術戦略の立案、技術マネジメント、海外企業との技術連携などにも携わり、分析技術を研究開発から産業応用へ展開する役割を担ってきました。

東レリサーチセンターでは代表取締役社長を務め、研究開発、分析技術、経営の各分野において幅広い経験を積み、現在は技術・経営コンサルタントおよび東レリサーチセンター技術経営顧問として、企業、大学、研究機関の研究開発、技術課題の解決、新規分析技術の導入、技術戦略の立案などを支援しています。

現在

  • 技術・経営コンサルタント

  • 東レリサーチセンター 技術経営顧問

  • 前 東レリサーチセンター 代表取締役社長

 

専門分野

  • Raman Spectroscopy

  • Photoluminescence（PL）

  • Cathodoluminescence（CL）

  • FT-IR Spectroscopy

  • SNOM / TERS

  • Electron Microscopy Analysis（SEM・STEM）

  • 半導体材料・デバイス評価

  • 結晶欠陥解析・応力評価

  • ワイドバンドギャップ半導体（Si、SiC、GaN、Diamond、Ga₂O₃）

  • 光学分光・電子顕微鏡データ解析

  • 海外技術連携・技術コンサルティング

 

主な経歴

  • 東レリサーチセンター入社

  • 半導体・材料分析技術の研究開発に従事

  • Raman、PL、CL、FT-IR、電子顕微鏡解析技術の開発・実用化を推進

  • 分析技術部門責任者として新規分析技術開発を統括

  • 東レリサーチセンター 代表取締役社長

  • 技術・経営コンサルタントとして独立

  • 東レリサーチセンター 技術経営顧問（現職）

 

主な実績

  • 半導体・材料分析技術分野における40年以上の研究開発および技術支援

  • Raman、PL、CL、FT-IR、SNOM/TERS、電子顕微鏡解析技術の開発・実用化

  • Si、SiC、GaN、Diamondなど先端半導体材料・デバイス評価技術の開発

  • 半導体デバイスの結晶欠陥解析および応力評価技術の確立

  • 国内外企業・大学・研究機関との共同研究および技術支援

  • 海外分析会社との技術連携・事業開発

  • 技術戦略・研究開発戦略・技術経営に関するコンサルティング

  • Springerをはじめとする専門書、学術論文、解説記事を多数執筆

  • 国内外学会における招待講演・研究発表多数

 

メッセージ

半導体・材料分析技術は、研究開発や製品開発における重要な基盤技術です。

私は40年以上にわたり、研究開発から技術の実用化、さらには技術経営まで一貫して携わってきました。その経験を活かし、分析技術の専門家として、企業・大学・研究機関が直面する技術課題の解決、新規分析技術の導入、研究開発の推進に貢献したいと考えています。

研究開発から技術経営まで一貫した経験を有する分析技術の専門家として、お客様の研究開発や製品開発における技術課題の解決に貢献いたします。

半導体・材料分析技術、データ解析、研究開発戦略、技術レビュー、論文・技術資料作成、海外技術連携などについて、お気軽にお問い合わせください。

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