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代表的著書・出版実績
元 株式会社東レリサーチセンター 代表取締役社長
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40年以上の半導体・材料分析研究開発経験
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元 東レリサーチセンター代表取締役社長
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Springerより専門書出版
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ラマン・CL・PL分光法の専門家
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技術顧問・技術セミナー・共同研究に対応
Springerより出版した専門書
Books & Publications
代表的著書・出版実績
単著
単著
共著
共著
共著
共著
共著
Springer、講談社、共立出版などから専門書・分担執筆書を出版
主な実績
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査読付き論文80報以上
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国際会議招待講演多数
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特許出願多数
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Springer著書出版
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東レリサーチセンター 技術・経営顧問
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前 東レリサーチセンター代表取締役社長
プロフィール
半導体・材料分析技術コンサルティング
Raman、PL、CL、FT-IR、SNOM/TERS、
電子顕微鏡解析による半導体材料および
デバイス評価を支援します。
吉川 正信 博士（工学）
技術・経営コンサルタント
東レリサーチセンター 技術経営顧問
（前代表取締役社長）
40年以上にわたり半導体材料評価および
分析技術開発に従事。
専門分野
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Raman Spectroscopy
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Photoluminescence (PL)
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Cathodoluminescence (CL)
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FT-IR
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SNOM / TERS
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Electron Microscopy Analysis
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Si, SiC, GaN, Diamond, Ga₂O₃
Si、SiC、Ga₂O₃、Diamond、GaNをはじめとする先端半導体材料およびデバイス評価を支援します。
また、研究開発戦略、
技術経営、
海外研究拠点運営に関する
アドバイスも提供します。
お問い合わせ
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